전기 화학 및 분광특성 분석

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광대역 주파수 나노탄소복합소재 전자파차폐 측정 시스템
- 나노탄소 복합소재 및 섬유 복합소재 등의 고주파대역 전자파 특성 분석
- 주기적으로 변화하는 Pulse 신호 분석
- 플라즈마 공정 변수 (Cut-off probe) 및 Matching 회로 측정

용액상태 600 MHz 핵 자기공명 분광기.jpg

용액상태 600 MHz 핵 자기공명 분광기
○ 탄소화 전구체의 구조해석
* 탄소화 전구체로 사용되는 고분자를 합성하기 위한 모노머의 화학적 구조를 해석 할 수 있음.
* 탄소화 전구체로 사용되는 고분자의 화학적 구조를 해석 할 수 있음
* 탄소섬유 전구체의 입체규칙성을 분석하여 저결함 고강도 탄소섬유를 위한 필수 장비임.
○ 화학물질의 구조해석
* 탄소화합물의 기능화에 사용되는 화학물질의 구조를 해석 할 수 있음.
○ 조성물의 정량분석
* 물질을 구성하고 있는 화학물의 정량적 분석을 할 수 있음.
○ 탄소 복합재를 위한 고분자 바인더의 구조 해석
* 고분자 바인더 및 탄소 복합재를 구성하기위해 쓰이는 고분자 및 유기물의 화학적 구조 해석 및 조성물의 정량 분석.

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자동 면저항측정기
〇 필름, 벌크형태, 섬유형태 등의 시료의 전기저항, 면저항, 비저항을 측정함. 대면적 시료의 면저항 데이터를 시료의 위치에 따라 프루브를 이동하면서 얻어진 면저항을 mapping 함. mapping 데이터를 통해 면저항의 분포를 알 수 있음.

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임피던스 유전율 분석시스템
〇 필름, 벌크형태, 섬유형태 등의 시료의 전기저항, Capacitance, Inductance를 20Hz to 120MHz 범위에서 측정함.
○ 픽스쳐를 사용할 경우, 필름형태의 시료를 픽스쳐에 올려놓고 두께 값을 입력하면 곧바로 유전율을 측정할 수 있음.

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무냉매 초전도 마그넷 시스템
〇 나노카본소재 및 복합소재의 전자소자 응용을 위한 전기적 특성을 300 mK 까지의 저온에서 분석함. 14T의 고자기장에서 그래핀과 같은 이차원 물질의 양자홀 효과를 분석함. 온도를 변화시켜가면서 시료의 온도변화에 따른 전기적 특성을 측정함.

5.무냉매 희석식 냉각기 마그넷 시스템.jpg

무냉매 희석식 냉각기 마그넷 시스템
〇 시료의 전기적 특성을 10 mK 까지의 극저온에서 분석함. 온도 에너지의 영향을 배재한 채로 근본적인 물성을 측정할 수 있음. 9-1-1T 으로 자기장의 방향을 자유롭게 변화시켜가면서 그래핀과 같은 이차원 물질의 양자홀 효과, 시료의 단전자 트랜지스터 현상, 양자 진동현상 등을 분석할 수 있음.

6.온도가변형홀효과 측정장비.jpg

온도가변형홀효과 측정장비
〇 여러 가지 재료의 전기적 특성들을 조사하고 분석하는데 있어 기본적으로 사용되는 Hall effect measurement로부터 다양한 재료의 전기 전도도, 이동도, 케리어농도, N형이나 P형 판정등을 평가

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전기화학분석장비
〇 Low temperature fuel cells,
* 일정 범위의 전압을 순환하면서 샘플에서 생성되는 미세전류의 변화를 측정.
* 수 mg의 샘플로도 전기화학적 특성을 평가할 수 있으며 특히 샘플에 형성된 복합 저항도 측정가능 함.
〇 Secondary battery: 충·방전 거동분석
〇 Super-capacitors: capacitance 측정4) Analytical electrochemistry
〇 Biotechnology
〇 Chemical Mechanical Polishing (CMP)
〇 Coatings research (organic and inorganic)

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기체크로마토그래프 질량분석기
〇 1-bromophenol 같은 저분자량을 가지는 유기물을 가스크로마토그래프 질량 분석기로 분석을 하게 되면 이 화합물의 분자량 173에 해당하는 m/z 값이 검출되어진다. 따라서, 기체가스크로마토그래프 질량분석기를 이용하면 시료에 포함되어진 화합물의 분자량을 정확히 분석 할 수 있게 된다.

라만 분광광도계.jpg

라만 분광광도계
〇 시료에 조사된 빛이 분자에 의해 산란된 가시복사선을 측정하여 화학적 구조를 분석
〇 가시복사선 측정 적외선 분광광도계와 상호 보완적으로 사용됨 시료의 비파괴 분석 및 수분의 영향을 받지 않으며 유리나 석영등을 이용하여 측정 가능
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상세보기

장비명 별 도입연도와 설비상태 등의 정보를 확인할 수 있는 상세 표
장비명(국문) 마이크로 복합구조체 열방출 현미경
장비명(영문) Thermal emission microscope
장비명(약칭) Nova NanoSEM 450
도입연도 2016.10
설비상태 정상
규격, 측정결과, 활용용도 및 이용분야, 사용료의 정보를 알 수 있는 장비 상세 표
규격
측정결과
활용용도 및
이용분야
  • 적외선 현미경을 사용하여 반도체용 passive 복합소재 (패키지, 배선)의 마이크론 영역에서의 열분포 분석 및 열에 의한 failure분석
  • 복합소재를 이용한 방열소재의 열분석에 있어서 미시적 열 흐름을 이미지화 및 분석.
  • Thermal lock-in analysis를 통한 열방출 amplitude image와 phase이미지 분석을 통한 복합소재 및 반도체 패키지에서의 열방출 위치 및 원인 분석
사용료 기본료/시간 20만원
측정요금/시간 30만원
추가사항 5만원
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